電子元器件檢測(cè)系統(tǒng)是一種使用X射線技術(shù)對(duì)電子元器件進(jìn)行非破壞性檢測(cè)的系統(tǒng)。它通過(guò)發(fā)射高能X射線束照射待測(cè)元器件，并利用X射線的透射、散射和吸收等現(xiàn)象，獲取元器件內(nèi)部的結(jié)構(gòu)、缺陷或異常情況的信息。